XST-SIFNet 日光诱导叶绿素荧光光谱仪

XST-SIFNet 日光诱导叶绿素荧光光谱仪

长期自动监测地物光谱反射率：高精度，低功耗，内置温控模块，适应野外环境

荧光参数自动计算：内置多种SIF计算模型，实时输出叶绿素荧光计算结果

基于云平台的数据可视化：实时测量参数与同步计算参数直观展示

多目标探测功能：内置自动光路切换模块，实现一机多目标、多角度探测

基于浏览器的操作界面：随时查看、修改参数，支持手动测量、查看及下载数据

野外调试及维护简单：软件配置、调试可实现远程网络化操作

多种数据校正模块：暗室积分球标定、辐射校正、光谱校正和暗流校正

通过国家科研单位检测中心检测，国家重点实验室定期数据标定基准机

产品概述

北京星视图科技有限公司自主研发的XST-SIFNet日光诱导叶绿素荧光光谱仪，集成高分辨率光谱仪模块、自动光路切换控制系统和数据采集、存储计算模，为实现全天候高光谱数据自动采集、自动输出多种植被生长参数提供了低成本、高效率、对植物生长无干扰的监测解决方案。

产品功能

直接测量参数

光谱原始数据、光谱反射率、日光诱导叶绿素荧光（SIF）、归一化植被指数（NDVI）、红边指数（REI）等

实时模拟计算参数

总激发荧光（SIFT）、叶绿素荧光产额（SIFY）、光合速率（PSR）、光合有效辐射吸收比（FPAR）、总初级生产力（GPP）、以及多种植被指数

支持定制

用户提供定制参数计算模型、我们实现模块嵌入自动计算

应用案例

气象局鹤壁农业气象试验站2023年夏季，XST-SIFNet 日光诱导叶绿素荧光光谱仪观测的
SIF数据和NDVI数据，分析如下：

NDVI值从安装完成日期开始，一直处于下降阶段，说明植被在这个过程已经处于小麦生长的后期，发育期属于衰落期，其中冠层中绿色叶片逐渐减少，直至到6月初（6月10日对应DOY = 161天前后），小麦收割完毕，下垫面有枯黄小麦冠层变成几乎不含叶绿素的麦秸秆残留物。

SIF值的变化趋势基本上能够反映出植被衰落过程的变化，而SIF值在DOY=170天以后，由于玉米的出苗，有略微的升高，可能也和田间麦秆残留物的垄间生长出绿色杂草有关，而SIF在整体为降低的趋势下，有部分日期存在跳动现象，这是由于这些日期上的PAR值具有明显的升高。从这个结果我们也可以看到，对SIF的解释需要综合考虑PAR和NDVI的共同作用。

技术参数