XST-SIFNet 日光誘導葉綠素螢光光譜儀

XST-SIFNet 日光誘導葉綠素螢光光譜儀

長期自動監測地物光譜反射率：高精度，低功耗，內寘溫控模塊，適應野外環境

螢光參數自動計算：內寘多種SIF計算模型，實时輸出葉綠素螢光計算結果

基於雲平臺的數據視覺化：實时量測參數與同步計算參數直觀展示

多目標探測功能：內寘自動光路切換模塊，實現一機多目標、多角度探測

基於瀏覽器的操作介面：隨時查看、修改參數，支持手動量測、查看及下載數據

野外調試及維護簡單：軟件配寘、調試可實現遠程網路化操作

多種數據校正模塊：暗室積分球標定、輻射校正、光譜校正和暗流校正

通過國家科研單位檢測中心檢測，國家重點實驗室定期數據標定基準機

產品概述

北京星视图科技有限公司自主研发的XST-SIFNet日光诱导叶绿素荧光光谱仪，集成高分辨率光谱仪模块、自动光路切换控制系统和数据采集、存储计算模，为实现全天候高光谱数据自动采集、自动输出多种植被生长参数提供了低成本、高效率、对植物生长无干扰的监测解决方案。

產品功能

直接测量参数

光谱原始数据、光谱反射率、日光诱导叶绿素荧光（SIF）、归一化植被指数（NDVI）、红边指数（REI）等

实时模拟计算参数

总激发荧光（SIFT）、叶绿素荧光产额（SIFY）、光合速率（PSR）、光合有效辐射吸收比（FPAR）、总初级生产力（GPP）、以及多种植被指数

支持定制

用户提供定制参数计算模型、我们实现模块嵌入自动计算

應用案例

气象局鹤壁农业气象试验站2023年夏季，XST-SIFNet 日光诱导叶绿素荧光光谱仪观测的
SIF数据和NDVI数据，分析如下：

NDVI值從安裝完成日期開始，一直處於下降階段，說明植被在這個過程已經處於小麥生長的後期，發育期屬於衰落期，其中冠層中綠色葉片逐漸减少，直至到6月初（6月10日對應DOY = 161天前後），小麥收割完畢，下墊面有枯黃小麥冠層變成幾乎不含葉綠素的麥秸稈殘留物。

SIF值的變化趨勢基本上能够反映出植被衰落過程的變化，而SIF值在DOY=170天以後，由於玉米的出苗，有略微的升高，可能也和田間麥稈殘留物的壟間生長出綠色雜草有關，而SIF在整體為降低的趨勢下，有部分日期存在跳動現象，這是由於這些日期上的PAR值具有明顯的升高。 從這個結果我們也可以看到，對SIF的解釋需要綜合考慮PAR和NDVI的共同作用。

技术参数