XST-SIFNet Sonnenlicht-induziertes Chlorophyll-Fluoreszenzspektrometer

XST-SIFNund Tageslicht-induzierte Chlorophyll-FluoreszenzSpektrograf

Automatisierte Langzeitüberwachung des spektralen Reflexionsgrads von Merkmalen:Hohe Präzision, geringer Stromverbrauch, integriertes Temperaturregelungsmodul, Anpassung an die Umgebung

Die Fluoreszenzparameter werden automatisch berechnet:Integrierte mehrere SIF-Berechnungsmodelle, Echtzeit-Ausgabe der Chlorophyllfluoreszenz-Berechnungsergebnisse

Cloud-basierte Plattform für Datenvisualisierung:Visualisierung von in Echtzeit gemessenen und synchronisierten berechneten Parametern

Funktion zur Erkennung mehrerer Ziele:Eingebautes Modul zur automatischen Umschaltung des optischen Pfades, das die Erkennung von mehreren Zielen und Winkeln mit einem einzigen Gerät ermöglicht.

Browser-basierte Schnittstelle:Anzeigen und Ändern von Parametern zu jeder Zeit, Unterstützung manueller Messungen, Anzeigen und Herunterladen von Daten

Einfache Inbetriebnahme und Wartung vor Ort:Software-Konfiguration, Debugging kann per Fernzugriff im Netzwerk durchgeführt werden

Mehrere Datenkorrekturmodule:Kalibrierung der Ulbricht-Kugel in der Dunkelkammer, radiometrische Korrektur, Spektralkorrektur und Dunkelstromkorrektur

Durch die nationale wissenschaftliche Forschung Einheit Testzentrum Tests, die nationalen Schlüssellabor regelmäßige Daten Kalibrierung Benchmark-Maschine

Produktübersicht

Das XST-SIFNet Sonnenlicht-induzierte Chlorophyll-Fluoreszenz-Spektrometer, das unabhängig von Beijing StarView Technology Co. entwickelt wurde, integriert ein hochauflösendes Spektrometermodul, ein automatisches optisches Schaltkontrollsystem und ein Datenerfassungs-, -speicherungs- und -berechnungsmodul, das eine kostengünstige, hocheffiziente und störungsfreie Lösung für die Überwachung des Pflanzenwachstums darstellt, um die automatische Erfassung von Allwetter-Hyperspektraldaten und die automatische Ausgabe einer Vielzahl von vegetativen Wachstumsparametern zu realisieren.

Produktmerkmale

Direkte Messung von Parametern

Spektrale Rohdaten, spektraler Reflexionsgrad, sonnenlichtinduzierte Chlorophyllfluoreszenz (SIF), normalisierter Vegetationsindex (NDVI), Red-Edge-Index (REI), usw.

Echtzeitsimulation der berechneten Parameter

Gesamtanregungsfluoreszenz (SIFT), Chlorophyllfluoreszenzausbeute (SIFY), Photosyntheserate (PSR), Verhältnis der photosynthetisch aktiven Strahlungsaufnahme (FPAR), gesamte Primärproduktivität (GPP) und verschiedene Vegetationsindizes

Unterstützung für Anpassungen

Kundenspezifische Parametermodelle werden vom Benutzer zur Verfügung gestellt, und wir automatisieren die Berechnung, indem wir das Modul einbetten.

Anwendungsfälle

XST-SIFNet-Sonnenlicht-induzierte Chlorophyll-Fluoreszenz-Spektrometer-Beobachtungen in der Hebirometeorologischen Versuchsstation des Meteorologischen Büros, Sommer 2023
SIF-Daten und NDVI-Daten, die wie folgt analysiert wurden:

Die NDVI-Werte befinden sich seit dem Zeitpunkt der Fertigstellung der Anlage in einer rückläufigen Phase, was darauf hindeutet, dass sich die Vegetation in diesem Prozess in der Spätphase des Weizenwachstums befindet, und die Entwicklungsperiode gehört zu den Abbauphasen, in denen die grünen Blätter im Kronendach allmählich reduziert werden, bis Anfang Juni (der 10. Juni entspricht etwa dem DOY = 161 Tage) die Weizenernte abgeschlossen ist und sich auf der Unterlage ein verwelktes Weizendach befindet, das sich in einen Strohrest verwandelt hat, der praktisch kein Chlorophyll mehr enthält.

Der Trend des SIF-Wertes spiegelt im Wesentlichen die Veränderung des Vegetationsrückgangsprozesses wider, während der SIF-Wert nach DOY=170 Tagen aufgrund des Aufkommens von Mais leicht ansteigt, was auch mit dem Wachstum von grünem Unkraut zwischen den Reihen der Strohrückstände auf dem Feld zusammenhängen kann, während der SIF-Wert an einigen der Daten unter dem allgemeinen Trend der Abnahme springt, aufgrund der Tatsache, dass der PAR-Wert an diesen Daten eine signifikante Erhöhung aufweist. Anhand dieses Ergebnisses können wir auch erkennen, dass bei der Interpretation des SIF die kombinierte Wirkung von PAR und NDVI berücksichtigt werden muss.

Technische Parameter